DRV5012 数字锁存霍尔效应传感器

Texas Instruments 的 DRV5012 超低功耗数字锁存霍尔效应传感器,VCC 范围为 1.65 V 至 5.5 V

Texas Instruments 的 DRV5012 数字锁存霍尔效应传感器图片Texas Instruments 的 DRV5012 器件是一款超低功耗数字锁存霍尔效应传感器,具有可通过选择的采样率。

当南磁极靠近封装顶部并超过 BOP 阈值时,器件将驱动一个低电压。该输出会保持低电平直至施加北磁极且 BRP 阈值被超越,这将导致输出驱动高电压。需要交替北极和南极来切换输出,集成磁滞将 BOP 和 BRP 分开以提供可靠的切换。

DRV5012 器件使用了一个使用内部振荡器,采样磁场并根据 SEL 引脚以 20 Hz 或 2.5 kHz 的速率更新输出。这种双带宽功能允许系统只需使用最小的功率即可监控运动的变化。

该器件工作在 1.65 V 至 5.5 V 的 VCC 范围,并采用小 X2SON 封装。

特性
  • 业界领先的低功耗
  • 引脚可选采样率:
    • SEL = 低:20 Hz,使用 1.3 μA(1.8 V)时
    • SEL = 高:2.5 kHz,使用 142 μA(1.8 V)时
  • 工作 VCC 电压范围为 1.65 V 至 5.5 V
  • 高磁敏度:±2 mT(典型值)
  • 强磁滞:4 mT(典型值)
  • 推挽式 CMOS 输出
  • 小而薄的 X2SON 封装
  • -40°C 至 +85°C 工作温度范围
应用
  • 增量旋转编码:
    • 电机速度
    • 机械行程
    • 流体测量
    • 旋钮旋转
    • 轮速
  • 无刷直流电机传感器
  • 便携式医疗设备
  • 电子锁,电动自行车,电动百叶窗
  • 流量计
  • 非接触式激活

DRV5012 Digital-Latch Hall Effect Sensor

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发布日期: 2018-01-03