NXP Semiconductors

MCU-Link JTAG SWD 调试探针

NXP 的 MCU-Link 调试探针以其低功耗、高性能双核 LPC55S69 MCU 工作在 150 MHz

NXP MCU-Link: JTAG/SWD 调试探针的图片NXP 与 Embedded Artists 联合开发的 MCU-Link 是一款功能强大且具有成本效益的调试探针，可以完美搭配 MCUXpresso IDE 使用，且兼容支持 CMSIS-DAP 协议的第三方 IDE。MCU-Link 还包括 USB 转 UART 桥接功能 (VCOM)，可用于在目标 MCU 和主机之间提供串行连接。MCU-Link 基于 LPC55S69 微控制器，并具有用于高性能调试的高速 USB 接口。

MCU-Link 兼容 Windows 10、MacOS 和 Linux。NXP 提供了免费实用程序来简便安装固件更新。

特性
  • 微控制器
    • LPC55S69 双 Arm® Cortex®-M33 微控制器，最高频率 150 MHz
  • 连接能力
    • 高速 USB 主机连接
    • 目标 UART 转 USB 桥接功能
  • 用户接口
    • SWD 活动 LED
  • 调试
    • 通过 10 针 Coresight 连接器将 SWD/JTAG 调试接口连接到目标
    • SWO 支持性能分析、中断跟踪和低开销数据访问
  • 固件升级支持
    • 通过 USB 轻松更新固件

 

支持的器件
  • 全部 Kinetis 微控制器
  • K32L 系列
  • LPC800 系列
  • LPC54000 系列
  • LPC5500 系列
  • i.MX RT10xx 系列
  • i.MX RT600 系列
  • i.MX RT500 系列
  • i.MX RT117x 系列

MCU-Link JTAG SWD Debug Probe

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ARM CORTEX-M DEBUG PROBEMCU-LINKARM CORTEX-M DEBUG PROBE4 - 立即发货$117.32查看详情
发布日期： 2021-02-22

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