作者： Digi-Key 工程师 Erik Brateng
器件很容易因ESD而受损。在器件到达最终目的地的过程中会接触许多事物（包括人及器件包装）并遭受静电放电。创建这些模式和一些测试旨在保护器件不受恶劣环境的影响，并确定器件的敏感性。
CDM ： （带电设备模式）是最常被忽略的模式之一。当器件从管子、袋子或类似物体上滑下并导致快速放电时，就会发生ESD事件。将器件接地时也会出现这种情况。此ESD事件完全取决于器件。常见的放电电路包括4pF或30pF电容所组成。
CDM的级别：
测试程序为：将器件引线向上放置在场板上，然后对器件进行充电和放电。下图展示了这一过程。
MM ： （机器模式）与HBM相似，被视为最坏情况的HBM。MM的主要损坏原因是带电的机器或器件。例如自动测试器的引脚。常见的放电网络包括200pF电容，不含电阻，并且通过500nH串联电感放电。
MM的级别：
可使用以下电路来测试MM模式：
HBM ： （人体模式）是最悠久且最常见的ESD模式。如Mil-Std 1686第5.2.1.1节所述，根据HBM标准，导致ESD损坏的主要原因是人体。尽管被称作人体模式，但实际上HBM代表人体或任何带电器件放电到ESD敏感（ESDS）器件的情况。这通常表现为指尖到器件的放电。可通过佩戴接地带、腕带和特殊垫子（有助于释放静电）来防止这种情况。
HBM的级别：
为便于测试，可使用以下人体模式电路。将器件放置在电路中，如果使用参数和功能测试，则器件在不符合规格书参数的情况下就会失效。
