作者： Digi-Key 工程师 Robert Fay
基美(Kemet)最近发表了一篇有关陶瓷电容老化的新文章，因而我想分享一些与老化、老化率和去老化相关的关键信息。
电容老化是指电容容量随时间以恒定的速率发生变化。老化通常表示为每十倍时的百分比。Matt R发布的一篇帖子中对十倍时进行了详细的说明。
为了帮助计算老化情况，Kemet设计了一个陶瓷老化计算器——Ceramic Aging Calculator r1.xls（185 KB）
电容量测试和老化可能会使许多人认为未使用的新电容存在问题。我们也发布了测试高容量MLCC的帖子。我们发现，很多时候由于老化，人们在测量中看到的数值会与规格书中的值略有出入。
好消息是，在大多数情况下，可以通过去老化来解决这一问题。通常情况下，这一操作是通过制造过程实现的。借助回流焊接工艺，电容的温度升高到居里点以上就会自然地重置为原始值，且使用日期/时间重置为0。
对于需要在制造过程前想进行重置的用户，Kemet还建议进行烘烤。
“将电容放在150ºC的烤箱中至少烘烤30分钟。超过居里点的时间并不精确，一旦电容达到居里点以上，就会发生老化。
但是，Kemet提出的在150ºC下烘烤30分钟的方法可以延长至足以超出居里点的时间。”
有关更多信息，请参见下方Kemet的“陶瓷电容老化：该期待什么”论文：TechTopic Ceramic Aging PDF.pdf（372.9 KB）