LED 测试时出现电应力损伤的类型和根因

常见问答
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有时 LED 可能在测试过程中损坏，而工程师甚至没有注意到。在测试时须特别注意不要使LED过载（有关LED测试的更多详情，请阅读以下内容）。

测试工程师还应注意测试过程中的电应力损伤（电气过载）。

  1. 电气过载（ EOS ）：

  • EOS威胁主要归咎于处理不佳和/或测试夹具设计问题；

  • 电力和数据线路上最严重的瞬变条件是附近雷击和设备切换造成的浪涌。

  1. 静电放电（ ESD ）：ESD损伤有几种发生方式，包括：

  • 接触ESD敏感（ESDS）物品的带电物体（包括人）；

  • 一个带电的ESDS器件以不同的电位接触地面或另一导电物体；

  • ESDS器件在暴露于静电场时接地。

LED厂商推荐了关于预防和管理ESD/EOS威胁的指南。IEC 61340-5和ANSI/ESD S20.20标准提供了有关在系统中组装LED组件时防止EOS和ESD损坏的指南。

  1. 反向极化

大多数LED可在正向偏压下产生光，且通常不会设计为在反向偏压下运作。LED由一个P-N结组成，如果高压浪涌以相反的方向通过器件，该结可能会因电流过大而被破坏。

LED厂商建议在安装LED之前先使用齐纳二极管来测试你的系统。